電化學(xué)顯微鏡是一款精密的掃描微電極體系，具有*空間分辨率，在溶液中可檢測電流或施加電流于微電極與樣品之間。是一種無(wú)觸摸，無(wú)破壞性的儀器，能夠用于測量導電，涂膜，或半導體材料，與樣品探針之間的功函差。這種技能是用一個(gè)振蕩電容探針來(lái)作業(yè)的，通過(guò)調理一個(gè)外加的前級電壓測量樣品外表和掃描探針的參比針尖之間的功函差。功函和外表狀況相關(guān)。共同性質(zhì)使在潮濕環(huán)境乃至是氣態(tài)環(huán)境中也能夠測量，將不或許研討變?yōu)閷?shí)際。用于檢測，剖析，或改動(dòng)樣品在溶液中的外表和界面化學(xué)性質(zhì)。掃描振蕩電極技能是一種非破壞性?huà)呙?，使用振蕩探針，測量電化學(xué)化學(xué)樣品外表產(chǎn)生的電特性。確保用戶(hù)能夠實(shí)時(shí)測定和定量部分電化學(xué)反響以及腐蝕。
材料腐蝕的電化學(xué)測驗辦法局限于整個(gè)樣品的微觀(guān)測驗，測驗成果只反映樣品的不同部分方位的全體計算成果，不能反映出部分的腐蝕及資料與環(huán)境的作用機理，為進(jìn)行部分外表科學(xué)研討,微區掃描體系供給了一個(gè)新的途徑，并日益得到包含部分腐蝕范疇的廣泛應用。
電化學(xué)顯微鏡是一種基于超微電極的掃描微探針電化學(xué)技能，它將一支能夠進(jìn)行三維方向移動(dòng)的超微盤(pán)電極作為作業(yè)探針沉浸在電解質(zhì)溶液中，在離基底約幾微米的方位進(jìn)行掃描，通過(guò)探針上的電流改變來(lái)反映基底的形貌和性質(zhì)。
SECM是基于70時(shí)代末超微電極和80時(shí)代初掃描隧道顯微鏡，發(fā)展起來(lái)的具有一定空間分辨率（介于一般光學(xué)顯微鏡和STM）的電化學(xué)原位檢測辦法，其核心是電化學(xué)和原位檢測。SECM的檢測信號是電流或者電位，因此具有化學(xué)反響物質(zhì)靈敏性，既而不光能夠研討探頭或者基底電極上的異相反響電荷轉移動(dòng)力學(xué)和溶液中的均相反響動(dòng)力學(xué)，乃至界面雙電層信息，還能夠原位分辨外表微區電化學(xué)不均勻性，能夠補償掃描電鏡等不能直接供給電化學(xué)活性信息的缺乏，電化學(xué)顯微鏡對于腐蝕研討具有重要的含義。
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