電化學(xué)顯微鏡是一款精密的儀器

　　電化學(xué)顯微鏡為表面科學(xué)測量提供了一個(gè)新的途徑，開(kāi)爾文探針是一種無(wú)接觸，無(wú)破壞性的儀器，可以用于測量導電的、半導電的，或涂覆的材料與試樣探針之間的功函差。這種技術(shù)是用一個(gè)振動(dòng)電容探針來(lái)工作的，通過(guò)調節一個(gè)外加的前級電壓可以測量出樣品表面和掃描探針的參比針尖之間的功函差。

　　功函和表面狀況有直接關(guān)系的理論的完善使SKP成為一種很有價(jià)值的儀器，它能在潮濕甚至氣態(tài)環(huán)境中進(jìn)行測量的能力使原先不可能的研究變?yōu)楝F實(shí)。

　　電化學(xué)顯微鏡是一款精密的掃描微電極系統，具有*空間分辨率，在溶液中可檢測電流或施加電流于微電極與樣品之間。

　　電化學(xué)顯微鏡用于檢測，分析，或改變樣品在溶液中的表面和界面化學(xué)性質(zhì)。掃描振動(dòng)電極技術(shù)是一種非破壞性?huà)呙?，利用振?dòng)探針，測量電化學(xué)化學(xué)樣品表面產(chǎn)生的電特性。確保用戶(hù)可以實(shí)時(shí)測定和定量局部電化學(xué)反應以及腐蝕。

　　電化學(xué)顯微鏡是一種無(wú)接觸，無(wú)破壞性的儀器，可以用于測量導電，涂膜，或半導體材料，與樣品探針之間的功函差。這種技術(shù)是用一個(gè)振動(dòng)電容探針來(lái)工作的，通過(guò)調節一個(gè)外加的前級電壓測量樣品表面和掃描探針的參比針尖之間的功函差。功函和表面狀況相關(guān)。電化學(xué)顯微鏡的*性質(zhì)使在潮濕環(huán)境甚至是氣態(tài)環(huán)境中也可以測量，將不可能研究變?yōu)楝F實(shí)。