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簡(jiǎn)要描述:NS3600 高速3D激光共聚焦顯微鏡是韓國Nanoscope Systems 公司生產(chǎn)的一種可靠的三維(3D)測量高速共焦激光掃描顯微鏡(CLSM)。通過(guò)快速光學(xué)掃描模塊和信號處理算法實(shí)現實(shí)時(shí)共焦顯微圖像。在測量和檢測微觀(guān)三維結構,如半導體晶片,FPD產(chǎn)品,MEMS設備,玻璃基板,材料表面等方面擁有*的解決方案。?NS3600 采用的是638nm 的激光作為光源,測量時(shí)無(wú)需與樣品表面接觸即可獲
產(chǎn)品分類(lèi)
詳細介紹
NS3600三維激光共聚焦顯微鏡
NS-3600是一種可靠的三維(3D)測量高速共焦激光掃描顯微鏡(CLSM)。通過(guò)快速光學(xué)掃描模塊和信號處理算法實(shí)現實(shí)時(shí)共焦顯微圖像。在測量和檢測微觀(guān)三維結構,如半導體晶片,FPD產(chǎn)品,MEMS設備,玻璃基板,材料表面等方面擁有*的解決方案。
Features & Benefits(性能及優(yōu)勢):
高分辨無(wú)損傷光學(xué)3D測量 自動(dòng)傾斜補償
實(shí)時(shí)共焦成像 簡(jiǎn)單的數據分析模式
多種光學(xué)變焦 雙Z掃描
大范圍拼接 半透明基材的特征檢測
實(shí)時(shí)CCD明場(chǎng)和共聚焦成像 無(wú)樣品準備
自動(dòng)聚焦
Software (軟件):
Application field(應用領(lǐng)域):
NS-3500是測量低維材料的有前途的解決方案。
可測量微米和亞微米結構的高度,寬度,角度,面積和體積,例如
-半導體:IC圖形,凹凸高度,線(xiàn)圈高度,缺陷檢測,CMP工藝
- FPD產(chǎn)品:觸摸屏屏幕檢測,ITO圖案,LCD柱間距高度
- MEMS器件:結構三維輪廓,表面粗糙度,MEMS圖形
-玻璃表面:薄膜太陽(yáng)能電池,太陽(yáng)能電池紋理,激光圖案
-材料研究:模具表面檢測,粗糙度,裂紋分析
Specifications(規格):
Model | Microscope NS-3600 | 備注 | ||||
物鏡倍率 | 10x | 20x | 50x | 100x | ||
觀(guān)察/ 測量范圍 | 水平 (H): μm | 1400 | 700 | 280 | 140 | |
垂直 (V): μm | 1050 | 525 | 210 | 105 | ||
WD: mm | 16.5 | 3.1 | 0.54 | 0.3 | ||
數值孔徑(N.A.) | 0.30 | 0.46 | 0.80 | 0.95 | ||
觀(guān)察/測量光學(xué)系統 | 針孔共聚焦光學(xué)系統 | |||||
高度測量 | 測量掃描范圍 | 10mm | ||||
顯示分辨率 | 0.001 μm | |||||
重復率 σ | 0.02 μm | 注1 | ||||
寬度測量 | 顯示分辨率 | 0.001 μm | ||||
重復率 3σ | 0.03 μm | 注 2 | ||||
幀記憶 | 像素 | 1024x1024, 1024x768, 1024x384, 1024x192, 1024x96 | ||||
單色圖像 | 12 bit | |||||
彩色圖像 | 8-bit for RGB each | |||||
高度測量 | 16 bit | |||||
幀速率 | 表面掃描 | 20 Hz to 160 Hz | ||||
線(xiàn)掃描 | ~8 kHz | |||||
激光接收元件 | PMT (光電倍增管) | |||||
激光 | 波長(cháng) | 638nm (2mW) | ||||
光學(xué)觀(guān)察照相機 | 成像元件 | 彩色圖像 CCD 傳感器 | ||||
記錄分辨率 | 1296x966 | |||||
數據處理單元 | PC | |||||
電源 | 電源電壓 | 100 to 240 VAC, 50/60 Hz | ||||
電流消耗 | 500 VA max. | |||||
重量 | 顯微鏡 | 大約. ~50 kg (測量頭大約: ~12 kg) | ||||
控制器 | ~8 kg | |||||
隔振系統 | 氣浮隔振 | Option |
注1:100次測量標準樣品(1μm高度) 100 x/ 0.9物鏡。
注2:100次測量標準樣品(5μm 間距) 100 ×/ 0.9物鏡。
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