全光譜分光光度計

使用技術(shù)的20/30 PV不僅可以讓用戶(hù)測試微米級樣品的吸收、反射、拉曼、熒光激發(fā)或其他光源類(lèi)型下的光譜，還同時(shí)提供了數字成像功能。美國CRAIC 20/30 顯微分光光度計系統，結合了顯微學(xué)和光譜學(xué)的優(yōu)勢，用于微小樣品或樣品的微小區域的光譜分析；微區光譜測試的范圍從深紫外到近紅外，同時(shí)也提供全波段的成像。具備先進(jìn)的光譜及圖像分析軟件、自動(dòng)化的參數設置、簡(jiǎn)單易用、能長(cháng)時(shí)間穩定工作等優(yōu)良特性。與上一代20/20PV 相比，具有更好的重復性和穩定性，使得微區光譜范圍從2100nm延伸至2500nm，還有配備了自動(dòng)光圈切換功能，使得自動(dòng)化特點(diǎn)更為突出?，F目前市場(chǎng)上，沒(méi)有一家公司能夠在顯微光譜分析條件下，能把光譜范圍做到200-2500nm,從紫外至近紅外全光譜波段。并且也是無(wú)光纖連接的系統，重復性和穩定性大大提高，光譜線(xiàn)性也是非常漂亮。

全光譜分光光度計產(chǎn)品簡(jiǎn)介

CRAIC 20/30 PV™全光譜顯微分光光度計

20/30 PV™ UV-Visible-NIR Microspectrophotometer

20/30 PV™可為用戶(hù)定制紫外-可見(jiàn)-近紅外分光光譜儀

創(chuàng )新性的20/30 PV™顯微分光光度計是CRAIC科技公司的儀器。它為您的需求打造，該定做儀器結合了光學(xué)、光譜學(xué)和軟件領(lǐng)域里的技術(shù)進(jìn)步，能夠為您帶來(lái)*的速度和性能體驗。CRAIC儀器*是因為它的簡(jiǎn)單易用，而這種易用性在這里甚至得到了改善，使得該設備成為先進(jìn)的紫外-可見(jiàn)-近紅外光顯微分光光度計。

20/30 PV™顯微分光光度計結合了的科技，允許用戶(hù)測量直徑小于1微米樣品區域的紫外-可見(jiàn)-近紅外光范圍內的透射比、吸光度、反射率、釋放強度和熒光光譜，即使是薄膜和色彩空間都能被檢測到。在獲得microspectra™（顯微光譜）的同時(shí)，可以觀(guān)察到樣品深紫色、可見(jiàn)光和近紅外光處高分辨率的數字圖像。易用的特點(diǎn)也附加到了20/30 PV™強大的系統中，包括了軟件自動(dòng)化儀器人體工程學(xué)的所有進(jìn)步。

20/30 PV™ 顯微分光光度計簡(jiǎn)單易用，測量方法為非破壞性并且得到的光譜數據顯微分光光度計，可以無(wú)縫從深紫光到近紅外光區域獲得顯微樣品的光譜和圖像。它可以在吸光度、反射率和熒光性中獲得 microspectra™（顯微光譜）和圖像。與顯微分光光度計一起提供的還有用眼觀(guān)察樣品的 DirecVu™和高分辨率紫外-可見(jiàn)-近紅外光區域數字成像系統。

主要特點(diǎn)

紫外-可見(jiàn)-近紅外光顯微分光光譜儀

一個(gè)*整合的顯微分光計裝置，描述從深紫外光到可見(jiàn)光到近紅外光范圍的光譜。同時(shí)直接獲得樣品空隙的圖像，而且樣品的測量更快、更精確。20/30 PV™ 擁有Lightblades™科技的特點(diǎn)，甚至能夠讓您測量次微米級樣品的透射比、反射率、偏振和熒光光譜。

CRAIC科技也是NIST可追溯的顯微分光計標準的來(lái)源。

拉曼顯微分光光譜儀

靈活的拉曼顯微分光光譜儀

當20/30 PV™裝上CRAIC阿波羅™拉曼分光儀模塊后，它能像拉曼、共振拉曼以及其他測量顯微樣品的儀器一樣工作。這些模塊包括激光、拉曼分光計和界面光學(xué)，能讓您收集到樣品高質(zhì)量的拉曼光譜。

熒光性

高靈敏度發(fā)射顯微分光計和成像系統

20/30 PV™可以被裝配成測量顯微樣品熒光和冷光光譜以及圖像的儀器。20/30 PV™擁有Lightblades科技的特點(diǎn)，能夠激發(fā)從深紫外到近紅外的光，能測出相同范圍的放射，它對于材料科學(xué)、生物學(xué)、地質(zhì)學(xué)等學(xué)科的顯微熒光測定法來(lái)說(shuō)是一款強大的工具。

偏振

紫外-可見(jiàn)-近紅外光顯微分光計和成像系統

20/30 PV™甚至可以被裝配成獲得偏振光譜和圖像的儀器。20/30 PV™顯微分光計擁有偏振Lightblades科技的特點(diǎn)和從紫外光到近紅外光的光譜范圍，它的性能是其他儀器無(wú)法達到的。用這個(gè)精細的系統您可以容易且迅速地獲得雙折射和其他有偏振特點(diǎn)的樣品的光譜和圖像。

光譜表面成像

光譜表面成像整合了為自動(dòng)化光譜分析設計的軟硬件和帶有顯微空間解析度的樣品3D成像技術(shù)。樣品吸光度、透射比、反射率、熒光性、放射性和拉曼光譜這些數據的3D地圖也許能夠生成。

從紫外光到近紅外光的出眾圖像質(zhì)量

20/30 PV™ 包含帶有研究級光學(xué)器件的紫外-可見(jiàn)-近紅外光顯微鏡，非常*。20/30 PV™ 擁有精細的成像軟件，帶有彩色、紫外線(xiàn)和近紅外光區域的高分辨數碼成像特點(diǎn)。這允許您簡(jiǎn)單迅速地通過(guò)透射比、反射率、偏振和熒光顯微鏡來(lái)實(shí)時(shí)獲得樣品的圖像。

應用

l 半導體薄膜厚度（測量）

l  MEMS 設備

l  表面等離子體共振

l  光激能帶隙水晶

l  雜質(zhì)加工檢測

l  蛋白質(zhì)晶體

l  法庭科學(xué)

l  藥物化學(xué)

l  可疑文件

l  OLED

l  平板彩色面罩

l  組合化學(xué)